SIMS：二次离子质谱仪

“Secondary Ion Mass Spectrometer”经常缩写成SIMS，以便快捷书写、使用。

常见于综合领域 ,和未分类的相关。

中文意思为：“二次离子质谱仪”。

Secondary Ion Mass Spectrometer : 二次离子质谱仪

Secondary Ion Mass Spectrometer具体释义

英文缩写：SIMS
英语全称： Secondary Ion Mass Spectrometer
英语发音：
美式英语发音：
英式英语发音：
中文意思：二次离子质谱仪
中文拼音：èr cì lí zǐ zhì pǔ yí
常用领域：综合
相关：未分类的

英文缩写词SIMS的例句

The FTE SAMs was characterized by the time-of-flight secondary ion mass spectrometer ( TOF-SIMS ), atomic force microscopy ( AFM ) and contact angle measurement, and the tribology properties of the FTE SAMs were measured by the Olympus head / disk interface reliability measurement system.
应用时间飞行二次离子质谱仪(SIMS)（TOF-SIMS）、原子力显微镜（AFM）和接触角测量仪对FTE自组装膜进行表征。通过Olympus磁头磁盘界面可靠性测试系统对FTE自组装膜的摩擦学性能进行研究。
A time-of-flight secondary ion mass spectrometer ( TOF-SIMS ), X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS ), an atomic force microscopy ( AFM ), and contact angle measurements were used to characterize the monolayer.
使用时间飞行二次离子质谱仪(SIMS)（TOF-SIMS）、X射线光电子能谱仪（XPS）、原子力显微镜（AFM）和接触角测量仪对FTE自组装膜进行了表征。
Particle Analysis in Nuclear Safeguards and Secondary Ion Mass Spectrometer(SIMS)
核保障的微粒分析与二次离子质谱仪(SIMS)
The distribution of trace elements as Fe, Si, Cu, Mg, Mn and Zn in the surface layer was also determined by secondary ion mass spectrometer.
利用二次离子质谱仪(SIMS)检测了铝箔表面区Fe、Si、Cu、Mg、Mn、Zn等微量元素的分布。
The Secondary Ion Mass Spectrometer(SIMS) ( SIMS ), especially dynamic SIMS, is the most suitable instrument for particle isotopic analysis.
动态型二次离子质谱仪(SIMS)（SIMS）是进行微粒同位素分析最适用的测量仪器之一。

注意：

英文缩写词 SIMS 的含义,不止“Secondary Ion Mass Spectrometer”一个。

“SIMS”是什么缩写的意思？

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